核辐射成像技术是利用辐射源放出的辐射,如X、g射线、中子等与物质相互作用来实现测量客体成像的一种无损分析技术。近年来,核辐射成像技术在医学、材料、生命科学、无损检测、工业探伤等领域有着广泛的运用,辐射成像探测器作为辐射成像系统中的关键装置,其性能直接决定了辐射成像的图像质量。随着微光探测器件的应用和相关技术的进步,采用闪烁体探测器进行辐射成像得以迅速发展和普及,而晶体闪烁体探测器因其探测效率较高、能量分辨率良好并且易于维护,更是被广泛使用。本文旨在从专利的角度分析世界范围内采用晶体闪烁体探测器的辐射成像技术发展现状,比较国内外的技术发展特点,为我国辐射成像领域的研究提供参考。
本文重点对外文数据库(VEN)和中国专利文摘数据库(CNABS)中的专利数据进行分析,截止到2015年2月12日,笔者共检索到相关专利申请3053件,由于专利申请公开有一定滞后,有可能影响2014年相关专利申请量数据。
本文在检索过程中,主要采用分类号与关键词结合的方式进行。采用晶体闪烁体探测器的辐射成像技术分类号主要为G01T1/202 (采用晶体闪烁体探测器测量X射线辐射、g射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射强度),并适当扩展到G01T1/00(X射线辐射、g射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量),A61B6/00(用于放射诊断的仪器)。关键词主要涉及辐射、辐照、射线、摄像、图像、成像、闪烁体、晶体等。